一、用途：

       透射电子显微镜（transmission electron microscopy，TEM）是一种研究物质显微结构，以及结构与性质、功能之间关系的高端仪器，透射电子显微镜的分辨率可以达到0.1～0.2 nm，放大倍数为几万～百万倍，因此，使用透射电子显微镜可以用于观察样品的精细结构，这为生物学、医学、化学、农林和材料科学等重要领域的科学研究提供重要的技术支持，同时也是人类认识、改造微观世界的有效手段。

二、主要技术参数：

1.透射(TEM)模式分辨率

信息分辨率：≤0.12 nm@200 KV

放大倍数：20-2,000,000×

2.电子枪

能量分辨率：0.7 eV（热场电子枪）；

加速电压范围：20-200 kV ；稳定性：≤1 ppm/min（峰峰值）

3.聚光镜与物镜系统      

全自动光阑系统, 可以通过计算机系统直接控制和观察光阑进出

物镜电流稳定性：≤1 ppm/min（峰峰值）          

标配洛伦茨模式

4.高精度全自动进样测角台

样品倾斜角X:+35°,Y:+30°；样品杆的插拔全部自动化

样品移动范围：X: 2 mm；Y: 2 mm；Z:0.4 mm

样品移动精度：≤0.2 nm/步

5.扫描透射附件(STEM) 模式分辨率

 STEM/SEI模式放大倍率：×200-150,000,000

6. X射线能谱分析仪

元素分析范围：B5-U92

具有Probe-Tracking功能

7.数字化成像系统

CMOS相机最大像素：≥2048*2048

具有大的动态范围，高达16 bit